高低温探针卡

高、低温探针卡的测试环境苛刻，针卡局部温度变化大，DGT公司经过30多年的经验积累，解决了高、低温探针卡在晶圆测试中的形变、针尖水平度差异大的问题。

产品特点：

高、低温测试（-40--150℃）

ReW/OC材质

平整度高

多Sites同测