高、低温探针卡的测试环境苛刻,针卡局部温度变化大,DGT公司经过30多年的经验积累,解决了高、低温探针卡在晶圆测试中的形变、针尖水平度差异大的问题。
高、低温测试(-40--150℃)
ReW/OC材质
平整度高
多Sites同测