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MEMS探针卡
MEMS是Micro Electro Mechanical Systems的缩写，本公司制作的 MEMS探针卡具有改善电特性的优点，同时也是需要测试大量wafer chip的存储设备测试的最佳解决方案。垂直式探针卡
垂直式探针卡，一般测试点比较密集，适用于逻辑类型产品的晶圆测试。包括如CPU，GPU，或者MCU，MPU，以及SoC产品或者多sites同测的WlCSP产品。其主要特点是探针短，阻抗等电性能一致性好，接触压力稳定，针痕也比较小，适用于小间距，高频芯片测试。悬臂式探针卡
悬臂式探针卡通常由PCB、探针、Epoxyring及功能部件等组成，根据不同的情况，还会有电子元件、Stiffener等组成部件。通过将数十根至数千根的探针以手工的方式，依据待测试芯片焊垫的位置，将探针安置于探针卡上制作。针卡测试设备
该设备主要应用于半导体行业探针卡使用的探针、探针卡设计阶段检测。包括接触电阻、针压力高低、针寿命测试、CCC测试等。
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企业新闻
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道格特将携MEMS卡、垂直卡、悬臂卡全系列三代探针卡产品亮相SEMICON CHINA 2023
发布时间：
2023-06-26 14:58
来源：
2023年6月29日-7月1日，SEMICON CHINA 2023上海国际半导体展将在上海新国际博览中心举办。届时深圳市道格特科技有限公司将携MEMS卡、垂直卡、悬臂卡全系列三代探针卡产品亮相此次展会（道格特展位号：E1馆711），恭候您的莅临交流！
图片展会地址：上海新国际博览中心（上海市浦东新区龙阳路2345号）
道格特简介
深圳市道格特科技有限公司（DGT）成立于2011年，公司专注于半导体晶圆测试用探针卡（Probe Card）研发、制造和销售，以及半导体测试配套服务。公司总部位于深圳，并在武汉，江苏启东，上海，苏州设有子公司。
道格特主营项目包含：晶圆测试用探针卡（Cantilever Probe Card、Vertical Probe Card、MEMS Probe Card)设计制作、IC测试板（Loadboard)设计制作、高端IC测试座（Socket)、高频线缆设计制作、半导体测试配套设备。
道格特拥有探针卡自主研发能力和全套探针卡制造的关键设备，致力于向客户提供精密测试系统解决方案。
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