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MEMS探针卡
MEMS是Micro Electro Mechanical Systems的缩写，本公司制作的 MEMS探针卡具有改善电特性的优点，同时也是需要测试大量wafer chip的存储设备测试的最佳解决方案。垂直式探针卡
垂直式探针卡，一般测试点比较密集，适用于逻辑类型产品的晶圆测试。包括如CPU，GPU，或者MCU，MPU，以及SoC产品或者多sites同测的WlCSP产品。其主要特点是探针短，阻抗等电性能一致性好，接触压力稳定，针痕也比较小，适用于小间距，高频芯片测试。悬臂式探针卡
悬臂式探针卡通常由PCB、探针、Epoxyring及功能部件等组成，根据不同的情况，还会有电子元件、Stiffener等组成部件。通过将数十根至数千根的探针以手工的方式，依据待测试芯片焊垫的位置，将探针安置于探针卡上制作。针卡测试设备
该设备主要应用于半导体行业探针卡使用的探针、探针卡设计阶段检测。包括接触电阻、针压力高低、针寿命测试、CCC测试等。
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产品中心
PRODUCT CENTER
针卡测试机
PC Test系列是一款可用于晶圆测试探针卡检测的综合性检测设备。人体工程学设计，操作简单，紧凑的结构设计大大降低了设备占有空间，在保证高精度测试的前提下，又极具性价比。模块化结构设计，可增加和更换多个配件实现更多兼容性，同时支持后期扩展加载升级。
该设备主要应用于半导体行业探针卡的使用前、中、后各阶段的检测，包括接触电阻、针压力高低、针尖水平、针尖位置等精密指标测量。
- 特征
- 参数
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● 如需了解详情，请联系我们。
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