首页

产品中心

产品中心
• MEMS探针卡

• 垂直式探针卡

• 悬臂式探针卡

• 针卡测试设备
• Flash Probe Card

• DRAM Probe Card
• D-VC系列

• D-VS系列

• D-VW系列

• D-VM系列
• SOC / LOGIC IC Probe Card

• DDI Probe Card

• CIS Probe Card

• Parametric Probe Card

• Memory Devices Probe Card

• Power Semiconductors Probe Card

• Chip Resistor Probe Card
• 探针测试机

• 针卡测试机

• 调针机

• 磨针机

• 工具显微镜

• 定制治具
MEMS探针卡

MEMS是Micro Electro Mechanical Systems的缩写，本公司制作的 MEMS探针卡具有改善电特性的优点，同时也是需要测试大量wafer chip的存储设备测试的最佳解决方案。
垂直式探针卡

垂直式探针卡，一般测试点比较密集，适用于逻辑类型产品的晶圆测试。包括如CPU，GPU，或者MCU，MPU，以及SoC产品或者多sites同测的WlCSP产品。其主要特点是探针短，阻抗等电性能一致性好，接触压力稳定，针痕也比较小，适用于小间距，高频芯片测试。
悬臂式探针卡

悬臂式探针卡通常由PCB、探针、Epoxyring及功能部件等组成，根据不同的情况，还会有电子元件、Stiffener等组成部件。通过将数十根至数千根的探针以手工的方式，依据待测试芯片焊垫的位置，将探针安置于探针卡上制作。
针卡测试设备

该设备主要应用于半导体行业探针卡使用的探针、探针卡设计阶段检测。包括接触电阻、针压力高低、针寿命测试、CCC测试等。

测试系统

测试系统
• 功率测试系统

• WAT测试系统

• IC测试系统

• 射频测试系统
功率测试系统

WAT测试系统

IC测试系统

射频测试系统

关于我们

关于我们
• 企业简介

• 企业新闻

• 招聘信息

• 联系我们
企业简介

企业新闻

招聘信息

联系我们