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MEMS探针卡
MEMS是Micro Electro Mechanical Systems的缩写，本公司制作的 MEMS探针卡具有改善电特性的优点，同时也是需要测试大量wafer chip的存储设备测试的最佳解决方案。垂直式探针卡
垂直式探针卡，一般测试点比较密集，适用于逻辑类型产品的晶圆测试。包括如CPU，GPU，或者MCU，MPU，以及SoC产品或者多sites同测的WlCSP产品。其主要特点是探针短，阻抗等电性能一致性好，接触压力稳定，针痕也比较小，适用于小间距，高频芯片测试。悬臂式探针卡
悬臂式探针卡通常由PCB、探针、Epoxyring及功能部件等组成，根据不同的情况，还会有电子元件、Stiffener等组成部件。通过将数十根至数千根的探针以手工的方式，依据待测试芯片焊垫的位置，将探针安置于探针卡上制作。针卡测试设备
该设备主要应用于半导体行业探针卡使用的探针、探针卡设计阶段检测。包括接触电阻、针压力高低、针寿命测试、CCC测试等。
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测试系统
Testing System
射频测试系统
发布时间：
2023-01-04 15:13
来源：
深圳市道格特科技有限公司
噪声系数经常被用来测试器件的附加噪声。噪声系数用来表征由源端阻抗不同引起的器件，噪声性能的变化。了解您器件的噪声参量是十分必要的，尤其是在使用失配晶体管设计低噪声放大器的时候。
道格特射频测试解决方案集成世界最领先的测试仪器和测量设备，以及最好的微波建模技术。该测试方案速度比传统方法提高多倍。设置简单，易于配置，整个校准和测量过程非常快速，使得密集的频率间隔变得切实可行。新方法产生更平滑的数据，散射更少，密集的频率间隔消除了由于混叠引起的移位，并且更容易识别散射和异常值。
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