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MEMS探针卡
MEMS是Micro Electro Mechanical Systems的缩写，本公司制作的 MEMS探针卡具有改善电特性的优点，同时也是需要测试大量wafer chip的存储设备测试的最佳解决方案。垂直式探针卡
垂直式探针卡，一般测试点比较密集，适用于逻辑类型产品的晶圆测试。包括如CPU，GPU，或者MCU，MPU，以及SoC产品或者多sites同测的WlCSP产品。其主要特点是探针短，阻抗等电性能一致性好，接触压力稳定，针痕也比较小，适用于小间距，高频芯片测试。悬臂式探针卡
悬臂式探针卡通常由PCB、探针、Epoxyring及功能部件等组成，根据不同的情况，还会有电子元件、Stiffener等组成部件。通过将数十根至数千根的探针以手工的方式，依据待测试芯片焊垫的位置，将探针安置于探针卡上制作。针卡测试设备
该设备主要应用于半导体行业探针卡使用的探针、探针卡设计阶段检测。包括接触电阻、针压力高低、针寿命测试、CCC测试等。
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MEMS探针卡
产品内容
<p style="text-indent:21.0000pt; text-align:justify"><span style="font-family:FangSong_GB2312;"><span style="font-size:10.5pt"><span style="font-size:10.5000pt">探针卡是连接半导体芯片和测试设备的装置，用于检查芯片功能。</span></span></span></p> <p style="text-indent:21.0000pt; text-align:justify"><span style="font-family:FangSong_GB2312;"><span style="font-size:10.5pt"><span style="font-size:10.5000pt">Flash是即使切断电源也不会消失数据的存储器,与一般的半导体存储器(DRAM)不同,可以通过施加稍高的电压来修改内容。与DRAM相比，每款产品的产量较多，探针卡需求量较大，但要求的针数较少。Flash分为储存容量大的数据</span><span style="font-size:10.5000pt">存储</span><span style="font-size:10.5000pt">型(NAND</span><span style="font-size:10.5000pt"> F</span><span style="font-size:10.5000pt">lash)和处理速度快的代码</span><span style="font-size:10.5000pt">存储</span><span style="font-size:10.5000pt">型(</span><span style="font-size:10.5000pt">NOR</span> <span style="font-size:10.5000pt">Flash)两种。</span></span></span></p>
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<p style="text-indent:21.0000pt; text-align:justify"><span style="font-family:FangSong_GB2312;"><span style="font-size:10.5pt"><span style="font-size:10.5000pt">探针卡是连接半导体芯片和测试设备的装置，用于检查芯片功能。</span></span></span></p> <p style="text-indent:21.0000pt; text-align:justify"><span style="font-family:FangSong_GB2312;"><span style="font-size:10.5pt"><span style="font-size:10.5000pt">DRAM探针卡比NAND探针卡要求更高的速度和精密</span><span style="font-size:10.5000pt">的</span><span style="font-size:10.5000pt">Timing,</span> <span style="font-size:10.5000pt">因此</span><span style="font-size:10.5000pt">对</span><span style="font-size:10.5000pt">pin的超小化(Fine-pitch Probe Card Pins)和窄间距(Pitch in Cooperative Probing)等技术难度较高。</span></span></span></p>
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